- Код статьи
- S30345731S1028096025040098-1
- DOI
- 10.7868/S3034573125040098
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том / Номер выпуска 4
- Страницы
- 63-69
- Аннотация
- Интерес к ван-дер-ваальсовским материалам связан с их уникальными физико-химическими свойствами и перспективами технологических применений. В настоящей работе объектом исследования является высокоориентированный пиролитический графит как модель таких материалов. Представлены результаты измерений методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением. Эксперименты проведены при углах детектирования 0°, 60°, 80° и 85° от нормали к поверхности образца, что позволило максимально локализовать сигнал, создаваемый верхним слоем высокоориентированного пиролитического графита. Представлена методика восстановления дифференциального сечения неупругих потерь энергии электронов из экспериментальных рентгеновских фотоэлектронных спектров. По указанной методике восстановлено дифференциальное сечение неупругого рассеяния электронов в высокоориентированном пиролитическом графите при каждом угле детектирования. Проведено сравнение полученных сечений с сечениями, восстановленными для графена с различным количеством слоев. Указано на определяющее влияние коллективных плазмонных потерь энергии электронов на формирование спектра потерь энергии в гетерогенных ван-дер-ваальсовских материалах.
- Ключевые слова
- ван-дер-ваальсовские материалы высокоориентированный пиролитический графит графен плазмонные возбуждения рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия нормированное дифференциальное сечение неупругого рассеяния электронов
- Дата публикации
- 26.01.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 48
Библиография
- 1. Geim A.K., Grigorieva I.V. // Nature. 2013. V. 499. P. 419. https://www.doi.org/10.1038/nature12385
- 2. Novoselov K.S., Castro Neto A.H. // Phys. Scr. 2012. V. 2012. № T146. P. 014006. https://www.doi.org/10.1088/0031-8949/2012/T146/014006
- 3. Barrett N., Krasovskii E.E., Themlin J.M., Strocov V.N. // Surf. Sci. 2004. V. 566-568. P. 532. https://www.doi.org/10.1016/j.susc.2004.05.104
- 4. Werner W.S.M., Bellissimo A., Leber R., Ashraf A., Segui S. // Surf. Sci. 2015. V. 635. P. L1. https://www.doi.org/10.1016/j.susc.2014.12.016
- 5. Werner W.S.M., Astašauskas V., Ziegler P., Bellissimo A., Stefani G., Linhart L., Libisch F. // Phys. Rev. Lett. 2020. V. 125. № 19. P. 196603. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevLett.125.196603
- 6. Taft E.A., Philip H.R. // Phys. Rev. 1965. V. 138. № 1A. https://www.doi.org/10.1103/PhysRev.138.A197
- 7. Wallace P. // Phys. Rev. 1947. V. 71. № 9. P. 622. https://www.doi.org/10.1103/PhysRev.71.622
- 8. Marinopoulos A.G., Reining L., Olevano V., Rubio A., Pichler T., Liu X., Knupfer M., Fink J. // Phys. Rev. Lett. 2002. V. 89. № 7. P. 076402. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevLett.89.076402
- 9. Papageorgiou N., Portail M., Layet J. M. // Surf. Sci. 2000. V. 454-456. P. 462. https://www.doi.org/10.1016/S0039-6028 (00)00127-8
- 10. Eberlein T., Bangert U., Nair R.R., Jones R., Gass M., Bleloch A.L., Novoselov K.S., Geim A., Briddon P.R. // Phys. Rev. B. 2008. V. 77. № 23. P. 233406. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.77.233406
- 11. Pauly N., Novak M., Tougaard S. // Surf. Interface Anal. 2013. V. 45. № 4. P. 811. https://www.doi.org/10.1002/sia.5167
- 12. Tanuma S., Powell C., Penn D. // Surf. Interface Anal. 2011. V. 43. № 3. P. 689. https://www.doi.org/10.1002/sia.3522
- 13. Hoffman S. Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science. Berlin Heidelberg: Springer, 2012. 528 pp. https://doi.org/10.1007/978-3-642-27381-0
- 14. NIST Electron Elastic-Scattering Cross-Section Database, Version 5.0. (2002) https://srdata.nist.gov/srd64/
- 15. Salvat F., Jablonski A., Powell C.J. // Comput. Phys. Commun. 2005. V. 165. № 2. P. 157. https://www.doi.org/10.1016/j.cpc.2004.09.006
- 16. Garcia-Molina R., Abril I., Denton C.D., Heredia-Avalos S. // Nucl. Instrum. Meth. B. 2006. V. 249. № 1-2. P. 6. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2006.03.011
- 17. Strehlow W.H., Cook E.L. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1973. V. 2. № 1. P. 163.
- 18. Afanas′ev V.P., Bocharov G S., Gryazev A.S., Eletskii A.V., Kaplya P.S., Ridzel O.Y. // J. Phys.: Conf. Ser. 2018. V. 1121. P. 012001. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/1121/1/012001
- 19. Afanas′ev V.P., Bocharov G.S., Eletskii A.V., Ridzel O. Yu., Kaplya P.S., Koppen M. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2017. V. 35. № 4. P. 041804. https://www.doi.org/10.1116/1.4994788
- 20. Afanas′ev V.P., Bocharov G.S., Gryazev A.S., Eletskii A.V., Kaplya P.S., Ridzel O.Yu. // J. Surf. Invest. X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2020. V. 14. № 2. P. 366. https://www.doi.org/10.1134/S102745102002041X
