RAS PhysicsПоверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования Journal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
Предложена концепция ондуляторной станции на источнике синхротронного излучения для сочетания методов конфокальной рентгеновской флуоресцентной микроскопии (Confocal µXRF) и микроскопии с поточечным анализом тонкой структуры спектров поглощения рентгеновского излучения вблизи края (µXANES). Оптическая схема станции основана на применении компактного алмазного прорезного монохроматора (channel-cut) вблизи фокуса пучка ондуляторного излучения. Проведены оценка тепловой нагрузки на алмазный монохроматор и моделирование стационарного распределения температур и термоиндуцированных деформаций кристалла в условиях его водяного охлаждения. Показано, что в режиме с максимальной тепловой нагрузкой на монохроматор разброс углов деформированной поверхности первой ламели кристалла существенно меньше разброса углов сходящегося пучка ондуляторного излучения, его углового размера на образце и ширины кривой качания кристалла. Оценено энергетическое разрешение алмазного монохроматора С(111) с учетом сходимости пучка излучения и разницы температур ламелей кристалла. Результаты расчетов свидетельствуют о возможности применения алмазного монохроматора вблизи фокуса мощного ондуляторного пучка на источнике синхротронного излучения четвертого поколения и, следовательно, о реализуемости предложенной схемы.
Indexing
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation