ОФНПоверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования Journal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques

  • ISSN (Print) 1028-0960
  • ISSN (Online) 3034-5731

ПРОСТАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СХЕМА С АЛМАЗНЫМ КРИСТАЛЛОМ-МОНОХРОМАТОРОМ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ СПЕКТРОМИКРОСКОПИИ

Код статьи
S3034573125090014-1
DOI
10.7868/S3034573125090014
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том / Номер выпуска 9
Страницы
3-11
Аннотация
Предложена концепция ондуляторной станции на источнике синхротронного излучения для сочетания методов конфокальной рентгеновской флуоресцентной микроскопии (Confocal µXRF) и микроскопии с поточечным анализом тонкой структуры спектров поглощения рентгеновского излучения вблизи края (µXANES). Оптическая схема станции основана на применении компактного алмазного прорезного монохроматора (channel-cut) вблизи фокуса пучка ондуляторного излучения. Проведены оценка тепловой нагрузки на алмазный монохроматор и моделирование стационарного распределения температур и термоиндуцированных деформаций кристалла в условиях его водяного охлаждения. Показано, что в режиме с максимальной тепловой нагрузкой на монохроматор разброс углов деформированной поверхности первой ламели кристалла существенно меньше разброса углов сходящегося пучка ондуляторного излучения, его углового размера на образце и ширины кривой качания кристалла. Оценено энергетическое разрешение алмазного монохроматора С(111) с учетом сходимости пучка излучения и разницы температур ламелей кристалла. Результаты расчетов свидетельствуют о возможности применения алмазного монохроматора вблизи фокуса мощного ондуляторного пучка на источнике синхротронного излучения четвертого поколения и, следовательно, о реализуемости предложенной схемы.
Ключевые слова
синхротронное излучение ондуляторное излучение спектроскопия микроскопия тонкая структура спектров поглощения излучения вблизи края рентгеновский флуоресцентный анализ микрозонд алмазный монохроматор прорезной монохроматор тепловые нагрузки термоиндуцированные деформации
Дата публикации
10.01.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
4

Библиография

  1. 1. Дарьин Ф.А. Развитие метода конфокальной рентгеновской микроскопии для исследования микровключений в различные геологические матрицы: Дисс. канд. техн. наук. Новосибирск: Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, 2022. 141 с.
  2. 2. Lühl L., Hesse B., Mantouvalou I., Wilke M., Mahlkow S., Aloupi-Siotis E., Kanngiesser B. // Anal. Chem. 2014. V. 86. № 14. P. 6924. https://www.doi.org/10.1021/ac500990k
  3. 3. Darin F., Sorokoletov D., Rakshun I., Darin A., Volodin A., Kriventsov V. // AIP Conf. Proc. 2020. V. 2299. № 1. P. 080005. https://www.doi.org/10.1063/5.0030495
  4. 4. Tasca K.R., Petrov I., Deiter C., Martyushov S., Polyakov S., Rodriguez-Fernandez A., Shayduk R., Sinn H., Terentyev S., Vannoni M., Zholudev S., Samoylova L. // J. Phys.: Conf. Ser. 2022. V. 2380. № 1. P. 012053. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/2380/1/012053
  5. 5. Baranov G., Bogomyagkov A., Morozov I., Sinyatkin S., Levichev E. // Phys. Rev. Accel. Beams 2021. V. 24. № 12. P. 120704. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevAccelBeams.24.120704
  6. 6. Shkaruba V.A., Bragin A.V., Volkov A.A., Erokhin A.I., Zorin A.V., Kazantsev F.P., Kanonik P.V., Mezentsev N.A., Safronov A.N., Sedov A.A., Tarasenko O.A., Khrushchev S.V., Tsukanov V.M. // Phys. Part. Nuclei Lett. 2023. V. 20. № 4. P. 904. https://www.doi.org/10.1134/S1547477123040623
  7. 7. Шапошников Р.А., Гарахин С.А., Дуров К.В., Полковников В.Н., Чхало Н.И. // ЖТФ 2023. № 93. С. 931. https://www.doi.org/10.21883/JTF.2023.07.55748.77-23
  8. 8. Glushkov E.I., Malyshev I.V., Petrakov E.V, Chkhalo N.I., Khomyakov Yu.V., Rakshun Ya.V., Chernov V.A., Dolbnya I.P. // J. Surf. Investig. 2023. V. 17. №. Suppl. 1. P. S233. https://www.doi.org/10.1134/S1027451023070133
  9. 9. Chernov V.A., Bataev I.A., Rakshun Ya.V., Khomyakov Yu.V., Gorbachev M.V., Trebushinin A.E., Chkhalo N.I., Krasnorutskiy D.A., Naumkin V.S., Sklyarov A.N., Mezentsev N.A., Korsunsky A.M., Dolbnya I.P. // Rev. Sci. Instrum. 2023. V. 94. № 1. https://www.doi.org/10.1063/5.0103481
  10. 10. Pestov A.E., Lopatin A.Y., Volkov P.V., Zorina M.V., Lukyanov A.Y., Malyshev I.V., Mikhailenko M.S., Toropov M.N., Semikov D.A., Chernyshev A.K., Chkhalo N.I., Yunin P.A., Glushkov E.I., Gordeev S.K., Korchagina S.B. // J. Synchrotron Radiat. 2024. V. 31. № 5. https://www.doi.org/10.1107/S1600577524006088
  11. 11. X-ray DB (2024). https://xraypy.github.io/XrayDB/index.html
  12. 12. Klementiev K., Chernikov R. // SPIE. 2014. V. 9209. P. 60. https://www.doi.org/10.1117/12.2061400
  13. 13. Madenci E., Guven I. The Finite Element Method and Applications in Engineering Using ANSYS. Springer, 2015. 657 p. https://www.doi.org/10.1007/978-1-4899-7550-8
  14. 14. Ho C.Y., Powell R.W., Liley P.E. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1972. V. 1. № 2. P. 279.
  15. 15. Hedayat A., Khounsary A., Mashayek F. // SPIE. 2012. V. 8502. P. 167. https://www.doi.org/10.1117/12.929362
  16. 16. Jacobson P., Stoupin S. // Diam. Relat. Mater. 2019. V. 97. P. 107469. https://www.doi.org/10.1016/j.diamond.2019.107469
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека