- Код статьи
- S30345731S1028096025030126-1
- DOI
- 10.7868/S3034573125030126
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том / Номер выпуска 3
- Страницы
- 75-79
- Аннотация
- Для объяснения повышенного выхода положительных частиц с поверхности положительно заряженного диэлектрика было произведено компьютерное моделирование с помощью теории функционала плотности. Модельная система представляла собой фрагмент молекулы тефлона (CF) в вакууме. Была рассчитана энергия связи атомов в данной системе в нейтральном состоянии (без удаления электронов из системы), после чего проведен аналогичный расчет для ионизованного фрагмента молекулы тефлона (с удалением одного электрона из системы атомов). Расчеты показали, что энергия полной диссоциации одного фрагмента молекулы тефлона в нейтральном состоянии равна 11.02 эВ, что с хорошей точностью соответствует экспериментальным данным. Значение энергии связи в ионизованном фрагменте молекулы равно 2.86 эВ, а фрагмент молекулы тефлона диссоциирует на нейтрально заряженный атом фтора и положительно заряженный фрагмент CF. В расчетах с учетом дипольного момента фрагмента молекулы тефлона значение энергии связи получилось равным 2.75 эВ, фрагмент молекулы тефлона также диссоциировал на нейтральный атом фтора и положительно заряженный фрагмент CF. Полученные результаты могут быть причиной повышенного выхода положительных частиц с поверхности положительно заряженного массивного диэлектрика.
- Ключевые слова
- энергия связи тефлон теория функционала плотности трехмерное моделирование
- Дата публикации
- 23.12.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 43
Библиография
- 1. Helium Ion Microscopy. / Ed. Hlawacek G., Golzahauser A. Springer International Publishing, 2016. P. 526. https://www.doi.org/10.1007/978-3-319-41990-9
- 2. Petrov Yu.V., Anikeva A.E., Vyvenko O.F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2018. V. 425. P. 11. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.04.001
- 3. Ohya K., Yamanaka T., Takami D., Inai K. // Proc. SPIE. 2010. V. 7729. P. 146. https://www.doi.org/10.1117/12.853488
- 4. Rau E.I., Evstafeva E.N., Andrianov M.A. // Phys. Solid State. 2008. V. 50. P 621. https://www.doi.org/10.1134/S1063783408040057
- 5. Fakhfakh S., Jbara O., Belhaj M., Fakhfakh Z., Kallel A., Rau E.I. // Europ. Phys. J. Appl. Phys. 2003. V. 21. № 2. P. 137. https://www.doi.org/10.1051/epjap:2003001
- 6. Baragiola R.A., Shi M., Vidal R., Dukes C. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. № 19. P. 13212. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.58.13212.
- 7. Shi J., Fama M., Teolis B., Baragiola R.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2010. V. 268. № 19. P. 2888. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2010.04.013
- 8. Yogev S., Levin J., Molotskii M., Schwarzman A., Avayu O., Rosenwaks Y. // J. Appl. Phys. 2008. V. 103. Iss. 6. P. 064107. https://www.doi.org/10.1063/1.2895194
- 9. Nagatomi T., Kuwayama T., Takai Y., Yoshino K., Morita Y., Kitayama M., Nishitani M. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. Iss. 8. P. 084104. https://www.doi.org/10.1063/1.2888957
- 10. Nagatomi T., Kuwayama T., Yoshino K., Takai Y., Morita Y., Nishitani M., Kitagawa M. // J. Appl. Phys. 2009. V. 106. Iss. 10. P. 104912. https://www.doi.org/10.1063/1.3259428
- 11. Ohya K. // J. Vacuum Sci. Technol. B. 2014. V. 32. Iss. 6. P. 06FC01. https://www.doi.org/10.1116/1.4896337
- 12. Minnebaev K.F., Rau E.I., Tatarintsev A.A. // Phys. Solid State. 2019. V. 61. P. 1013. https://www.doi.org/10.1134/S1063783419060118
- 13. Rau E.I., Tatarintsev A.A., Zykova E.Yu. Markovets (Ozerova) K.E., Minnebaev K.F. // Vacuum. 2020. V. 177. P. 109373. https://www.doi.org/10.1016/j.vacuum.2020.109373
- 14. Зыкова Е.Ю., Иешкин А.Е., Миннебаев К.Ф., Озерова К.Е., Орликовская Н.Г., Рау Э.И., Татаринцев А.А. // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия. 2023. № 2. https://www.doi.org/10.55959/MSU0579-9392.78.2320302
- 15. Kohn W., Sham L.J. // Phys. Rev. 1965. V. 140. № 4A. P. A1133. https://www.doi.org/10.1103/PhysRev.140.A1133
- 16. Gainullin I.K. // Phys. Rev. A. 2017. V. 95. № 5. P. 052705. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.95.052705
- 17. Gainullin I.K. // Computer Phys. Comm. 2017. V. 210. P. 72. https://www.doi.org/10.1016/j.cpc.2016.09.021
- 18. Goldberg A., Yarovsky I. // Phys. Rev. B. 2007. V. 75. № 19. P. 195403. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.75.195403
- 19. Lininger C.N., Gauthier J.A., Li W.-L., Rossomme E., Welborn V.V., Lin Z., Head-Gordon T., Head-Gordon M., Bell A.T. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2021. V. 23. № 15. P. 9394. https://www.doi.org/10.1039/D0CP03821K
- 20. Ciufo R.A., Han S., Floto M.E., Eichler J.E., Henkelman G., Mullins C.B. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2020. V. 22. № 27. P. 15281. https://www.doi.org/10.1039/D0CP02410D
- 21. Liao X., Lu R., Xia L., Wang Z., Zhao Y. // Energy Environmental Mater. 2022. V. five. № 1. P. 157. https://www.doi.org/10.1002/eem2.12204
- 22. Løvvik O.M. // Surf. Sci. 2005. V. 583. № 1. P. 100. https://www.doi.org/10.1016/j.susc.2005.03.028
- 23. Москаленко С.С., Мелкозерова Ю.А., Иешкин А.Е., Гайнуллин И.К. // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия. 2024. № 3. С. 6 https://www.doi.org/10.55959/MSU0579-9392.79.2430303.
- 24. Мелкозерова Ю.А., Гайнуллин И.К. // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия. 2023. № 4. С. 115. https://www.doi.org/10.55959/MSU0579-9392.79.2340504
- 25. Москаленко С.С., Гайнуллин И.К. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2023. №1. C. 103. https://www.doi.org/10.31857/S1028096022110152
- 26. Hildenbrand D.L. // Chem. Phys. Lett. 1975. V. 32. № 3. P. 523. https://www.doi.org/10.1016/0009-2614 (75)85231-6
- 27. Sigmund P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1987. V. 27. № 1. P. 1. https://www.doi.org/10.1016/0168-583X (87)90004-8
