- Код статьи
- S3034573125100113-1
- DOI
- 10.7868/S3034573125100113
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том / Номер выпуска 10
- Страницы
- 84-93
- Аннотация
- Развита методика обработки сигнала, полученного с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, основанная на расшифровке как области пиков, так и примыкающей к пикам области потерь энергии фотоэлектронов. Методика основана на методе парциальных интенсивностей. Результаты расчета парциальных коэффициентов, полученных в малоугловом приближении, находятся в хорошем соответствии с расчетами, выполненными на основе моделирования методом Монте-Карло. Отметим, что время расчета с помощью полученных предложенным методом аналитических выражений значительно меньше времени расчета, традиционно применяемым методом Монте-Карло. Данная методика позволила проанализировать изменения аллотропной структуры материалов, подвергнутых воздействию гелиевой плазмы, имитирующей условия на границе плазма–стенка в термоядерных установках. Исследовано изменение аллотропного вида графита марки МПГ-8 и вольфрама, происходящее под воздействием плазмы. Показано, что поверхность образца МПГ-8 в результате воздействия плазмы приобретает структуру пиролитического графита. Установлено, что диэлектрическая проницаемость вольфрама при возникновении на поверхности образца вольфрамового “пуха” под действием плазмы не изменяется. Стоит отметить возникновение слоя карбида вольфрама в результате воздействия плазмы.
- Ключевые слова
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия метод парциальных интенсивностей аллотропные разновидности вольфрам углерод внутрикамерные материалы термоядерных установок
- Дата публикации
- 25.02.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 1
Библиография
- 1. Briggs D., Grant J.T. Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy. Chichester: IM Publ, 2003. 899 p.
- 2. Hoffman S. Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Material Science. Berlin Heidelberg: Springer, 2012. 528 p.
- 3. Tikhonov A.N., Arsenin V.A. Solutions of ill-posed problems. Washington: Halsted Press, 1977. 258 p.
- 4. Tougaard S. // J. Vac. Sci. Tech. A. 1996. V. 14. Iss. 3. P. 1415. https://www.doi.org/10.1116/1.579963
- 5. CasaXPS (2022) Casa Software Ltd. http://www.casaxps.com
- 6. Werner W.S.M. // Surf. Interface Anal. 1995. V. 23. Iss. 11. P. 737. https://www.doi.org/10.1002/sia.740231103
- 7. Будаев В.П., Федорович С.Д., Лукашевский М.В., Мартыненко Ю.В., Губкин М.К., Карпов А.В., Лазукин А.В., Шестаков Е.А. // ВАНТ. Сер. Термоядерный синтез. 2017. Т. 40. Вып. 3. С. 23. https://www.doi.org/10.21517/0202-3822-2017-40-3-23-36
- 8. Тилинин И.С. // ЖЭТФ. 1982. Т. 82. Вып. 4. С. 1291.
- 9. Tilinin I.S., Werner W.S.M. // Surf. Sci. 1993. V. 290. Iss. 1–2. P. 119. https://www.doi.org/10.1016/0039-6028 (93)90594-A
- 10. Ландау Л.Д. // Собрание трудов. М.: Наука, 1969. 512 с.
- 11. Pauly N., Novák M., Tougaard S. // Surf. Interface Anal. 2013. V. 45. Iss. 4. P. 811. https://www.doi.org/10.1002/sia.5167
- 12. Garcia-Molina R., Abril I., Denton C.D., Heredia-Avalos S. // Nucl. Instrum. Meth. 2006. V. 249. Iss. 1–2. P. 6. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2006.03.011
- 13. Strehlow W.H., Cook E.L. // J. Phys. Chem. Ref. 1973. V. 2. Iss. 1. P. 163. https://www.doi.org/10.1063/1.3253115
- 14. Baldwin M.J., Doerner R.P. // J. Nucl. Mater. 2010. V. 404. Iss. 3. P. 165. https://www.doi.org/10.1016/j.jnucmat.2010.06.034
- 15. Wright G.M., Brunner D., Baldwin M.J., Doerner R.P., Labombard B., Lipschultz B., Terry J.L., Whyte D.G. // Nucl. Fusion. 2012. V. 52. № 4. P. 042003. https://www.doi.org/10.1088/0029-5515/52/4/042003
- 16. Afanas’ev V.P., Gryazev A.S., Efremenko D.S., Kaplya P.S. // Vacuum. 2017. V. 136. P. 146. https://www.doi.org/10.1016/j.vacuum.2016.10.021
- 17. Salvat F., Jablonski A., Powell C.J. // Comput. Phys. Comm. 2005. V. 165. Iss. 2. P. 157. https://www.doi.org/10.1016/j.cpc.2004.09.006
- 18. Tanuma S., Powell C.J., Penn D.R. // Surf. Interface Anal. 2005. V. 37. Iss. 1. P. 1. https://www.doi.org/10.1002/sia.1997
