Представлены результаты исследования насыщения ионами дейтерия текстурированной поликристаллической алмазной мишени. Имплантацию дейтерия в поликристаллическую алмазную мишень проводили пучком ионов дейтерия на ускорителе ГЕЛИС (ФИАН) при энергии ионов дейтерия 25 кэВ и токе пучка 30–35 мкА. Детектировали быстрые нейтроны, образующиеся в реакции синтеза ядер дейтерия в мишени. Регистрацию нейтронов проводили сцинтилляционными детекторами с органическими кристаллами. Калибровка сцинтилляционных детекторов была выполнена с использованием нейтронного генератора ИНГ-061. В ходе экспериментов проведено несколько сеансов облучения поликристаллической алмазной мишени пучком ионов дейтерия. Регистрировали выход нейтронов из мишени в зависимости от времени облучения и времени между сеансами облучения. Проведено моделирование прохождения ионов дейтерия в алмазе. По экспериментальным результатам с учетом сделанных расчетов энергии ионов дейтерия и сечения ядерной реакции (d + d) в зависимости от глубины прохождения дейтерия в мишень получены значения концентрации дейтерия в поверхностном слое поликристаллической алмазной мишени.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации